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互换性与技术测量基础

互换性与技术测量基础

定  价:38 元

丛书名:普通高等教育“十三五”规划教材暨智能制造领域人才培养规划教材

        

  • 作者:王莉静,郝龙,吴金文主编
  • 出版时间:2020/1/1
  • ISBN:9787568059763
  • 出 版 社:华中科技大学出版社
  • 中图法分类:TG801 
  • 页码:229
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:16K
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本书分为9章,主要包括我国公差与配合方面的最新标准,阐述了技术测量的基本原理,主要包括绪论,测量技术基础,极限与配合,几何公差,表面粗糙度及其评定,光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计,常用典型件的互换性,圆柱齿轮公差与检测,尺寸链计算。
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