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产品设计的电磁兼容故障排除技术

产品设计的电磁兼容故障排除技术

定  价:49 元

丛书名:国际电气工程先进技术译丛

        

  • 作者:[美]帕特里克·G.安德烈(Patrick G.André ) 肯尼思·D.怀亚特
  • 出版时间:2019/5/1
  • ISBN:9787111620471
  • 出 版 社:机械工业出版社
  • 中图法分类:TN03 
  • 页码:
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:
  • 开本:32开
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《产品设计的电磁兼容故障排除技术》详细讲述了产品的电磁干扰(EMI)故障排除技术。其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、故障排除方法或诊断工具。全书共11章,内容包括电磁基础、电磁干扰和电磁兼容、测量仪器、辐射发射、传导发射、辐射敏感度、传导敏感度、电快速瞬变脉冲群(EFT)、静电放电(ESD)、浪涌和雷电脉冲的瞬态抑制,以及其他特定的EMI问题。此外,本书还给出了8个附录,为读者提供了非常有价值的辅助信息、技术和工具。
《产品设计的电磁兼容故障排除技术》可供电子电气、电子产品的设计人员和电磁兼容(EMI)工程师使用,也可作为高等学校工科电子信息和通信类专业师生的辅助教材.
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