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太赫兹光电测试技术

太赫兹光电测试技术

定  价:278 元

        

  • 作者:曹俊诚 著
  • 出版时间:2020/11/1
  • ISBN:9787562861027
  • 出 版 社:华东理工大学出版社
  • 中图法分类:O441.4 
  • 页码:272
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:16
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本书主要从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发,介绍了太赫兹频段辐射源、探测器及探测技术的基本概念和特点,阐述了太赫兹光电测试技术中所涉及的基本理论、测试原理与方法、测试系统组成和主要技术特点,以及太赫兹光电测试技术在光电器件标定、光路校准、成像系统与信号传输系统中的应用。 希望通过对太赫兹频段光电测试技术的归纳和总结,促进太赫兹技术在物理学、材料学、生物医学、公共安全和信息技术等领域的应用与发展。
本书可作为太赫兹领域科研人员和相关学科研究生的参考书和工具书,亦可供有关工程技术人员参考。
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