可靠性·维修性·保障性技术丛书：测试性设计分析与验证_石君友，王自力编_9787118072877

《可靠性·维修性·保障性技术丛书：测试性设计分析与验证》从工程实际出发，系统地阐述了测试性设计分析、试验与评价的思想和方法，包括测试性的基本概念、测试性定性要求和定量要求、诊断方案设计、测试性分配和预计、故障模式与测试分析、基于相关性模型的测试设计分析、测试性设计准则、机内测试设计、外部测试设计、测试性验证与评价等，最后对测试性的新技术趋势（综合诊断、预测和健康管理）进行了综述。
《可靠性·维修性·保障性技术丛书：测试性设计分析与验证》可供工程技术人员和管理人员在开展测试性设计分析、验证与评价时学习和参考，也可以作为培训教材使用。同样可供测试性专业人员、大专院校本科生及研究生学习和参考。

    6.5.5 其他方法
    1）分布式BIT
    分布式BIT方案也称为联合式BIT，即除在系统级进行必要的测试外，在外场可更换单元级（LRU-外场故障隔离的产品层次）都设置BIT。这样，当BIT给出NOGO指示时，就把故障直接定位到故障的LRU。可避免用系统级测试经过逻辑分析推断发生故障的LRU时，可能导致的故障隔离错误。所以，分布式BIT方案可以减少I类虚警（错报）。
    对于LRU级设备，其BIT可用于故障检测，验证LRU级设备功能是否正常。如有故障，要隔离到SRU的话，则需要SRU级设计必要的BIT功能或测试点。这样，可以减少对SRU级的故障隔离错误。
    2）设计指南减少虚警问题是BIT设计的难点，现在还没有一种简单通用的防止虚警的设计方法。但是国外已有不少的BIT实际使用经验，国内外对BIT虚警的原因和防止方法也有所分析和建议。所以，总结、归纳有关BIT虚警问题的设计指导思想、基本方法和注意事项等，制定减少BIT虚警的设计指南或设计准则，在系统BIT设计过程中起指导作用。把防止虚警措施设计进去，可使BIT设计得更合理，从而可起到降低虚警率的作用。
    目前在一些BIT设计指南、准则中，关于防止虚警的内容还很少。国外有的资料中提了几条，也不够充分。减少虚警的设计指南尚待进一步研究。
    3）试验分析改进
    前面讲的多数为减少虚警的设计方法，大多数BIT和诊断测试设备不论设计得多么好，都需要有一个鉴别缺陷、分析原因、实施修正的过程，经过一定时间的试验、试用、发现问题、分析改进，才能达到规定的性能水平。这是个与可靠性增长相似的测试性增长和诊断成熟的过程，这个成熟过程同样适用于BIT和脱机测试。在确定用于测试模拟参数BIT测试容差时更是如此，通常要经过较长的试验过程才能设定合理的容差，以达到故障检测和虚警的最佳平衡。
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