边界扫描测试技术

定　　价：66.8 元

• 作者：课剑波　等编著
• 出版时间：2013/12/1
• ISBN：9787118091212
• 出 版 社：国防工业出版社

• 中图法分类：TM93 
• 页码：270
• 纸张：胶版纸
• 版次：1
• 开本：16开

内容简介

　　谭剑波、尤路、黄新、张卿、孙大成等编著的这本《边界扫描测试技术》主要从边界扫描技术的产生、原理以及应用三个方面，对边界扫描技术作了较为详细的介绍。包括用于数字电路测试的标准IEEE 1149.1、混合电路测试标准IEEE 1149.4、系统级测试标准IEEE 1149.5、高速数字网络边界扫描测试标准IEEE 1149.6，边界扫描技术在芯片设计中的应用，网络型边界扫描测试控制器的设计以及相关可测试性及工程应用设计实例等内容。
　　《边界扫描测试技术》可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等电子类学科专业高年级学生或研究生的课程教材使用，也可作为电子类相关领域工程技术人员的参考资料。

编辑推荐

谭剑波、尤路、黄新、张卿、孙大成等编著的这本《边界扫描测试技术》出版之前已作为学习资料在三十八所内部进行过多次技术交流，适合作为测试与故障检测技术方面的教材，也可作为广大测试和电子工程技术人员的参考书。　　全书共分十二章，内容包括：边界扫描测试原理和测试方法；边界扫描描述语言；边界扫描测试算法；基于边界扫描的可测试性设计；混合信号电路边界扫描测试；系统级边界扫描测试技术；高速数字网络边界扫描测试；网络型边界扫描测试控制器的设计等。

目 录

第一章 绪论
第二章 边界扫描测试原理和测试方法
第三章 边界扫描描述语言
第四章 边界扫描测试算法
第五章 基于边界扫描的可测试性设计
第六章 混合信号电路边界扫描测试
第七章 系统级边界扫描测试技术
第八章 高速数字网络边界扫描测试
第九章 边界扫描技术在芯片设计中的应用
第十章 网络型边界扫描测试控制器的设计
第十一章 边界扫描测试工具的应用
第十二章 基于边界扫描技术的测试系统设计
参考文献